超声波探伤缺陷定位

一． 零点调理

　　因为超声波经过维护膜、耦合剂（直探头）或有机玻璃楔块（斜探头）进入待测工件的，缺陷定位时，需将这局部声程移去，才干获得超声波在工件中实践声程。

　　零点普通是经过已知声程的试块进行调理，如CSK-IA试块中的R100圆弧面（斜探头）或深100mm的大平底（直探头）。

二． K值调理

　　因为斜探头探伤时不只要晓得缺陷的声程，更要得出缺陷的垂直和程度地位，因而斜探头还要准确测定其K值（折射角）才干精确地对缺陷进行定位。

　　K值普通是经过对具有已知深度孔的试块来调理，磁粉探伤机如用CSK-IA试块?50或?1.5的孔。

三． 定量调理

　　定量调理普通采用AVG（直探头）或DAC（斜探头）。

　　四． 缺陷定位

　　超声波探伤中测定缺陷地位简称缺陷定位。

　　1. 纵波（直探头）定位

　　纵波定位较简略，如探头波束轴线不偏离，缺陷波在屏幕上地位等于缺陷至探头在垂直偏向的间隔。

　　2. 外表波定位

　　外表波探伤定位与纵波定位根本相似超声波探伤仪只是缺陷位于工件外表，缺陷波在屏幕上地位是缺陷至探头在程度偏向的间隔（此时要思索探头前沿）。

　　3. 横波定位

　　横波斜探头探伤定位由缺陷的声程和探头的折射角或缺陷的程度和垂直偏向的投影来确定。

　　4. 横波周向探测圆柱面时缺陷定位周向探伤时，缺陷定位与平面探伤分歧。